6月6日，Helmut Schweigart博士受邀参加IPC“可靠性之路”系列讲座之《高压-电动汽车电子硬件可靠性》网络研讨会。IPC“可靠性之路”系列讲座旨在将行业领导者聚集在一起，讨论实现新兴电动汽车技术的可靠性障碍。Helmut博士与来自Danfoss-Semikron的Michael Schleicher和来自Reliability Assessment Solutions Inc.的Bob Neves一同讨论与高压系统相关的基本主题，包括高压绝缘、腐蚀、失效模式和可靠性测试等。

会上，Helmut博士介绍了他如何看待更高电压带来的挑战，讲解了在高压环境中由ECM（电化学迁移）、漏电流引起的损坏机制发生的更加频繁，而更高压也会引起的新难题，如AMP（阳极迁移现象）。他还分享了在60V以内电压范围内业内有丰富的知识经验支持，到了400V，1200V应用，从业者正在冒险进入未知领域。在专家小组讨论环节，Helmut博士对暴露于潮湿的开放式电子设备中存在的灰尘颗粒如何从惰性转变为导电性做了有趣说明。针对封闭的系统并不能免于水分的影响，他还阐释随着时间的推移，潮湿环境中的灌封材料在高压供电反复作用下时将面临的多种失效风险。

Helmut博士自ZESTRON欧洲公司成立以来一直在ZESTRON欧洲工作，现领导R&S（可靠性与表面技术）团队。他还是GfKORR（德国防腐蚀学会）的理事会成员，也是GUS（环境模拟学会）和IPC的活跃成员。Helmut博士曾发表多篇关于电化学迁移、涂覆层测试、潮湿可靠性的技术文章。

ZESTRON全球可靠性与表面技术团队，由表面分析、材料科学、应力测试和电子制造领域经验丰富的专家组成。多年来，一直为世界各地的客户提供有关汽车、医疗、工业、消费电子和航空等领域电子零部件的潮湿防护和表面及界面相关技术问题的支持。ZESTRON在提高电子零部件及整机可靠性领域为行业客户提供高价值的分析服务和咨询、培训及辅导。从设计阶段到量产开始，再到大批量的现场使用，R&S专家不仅评估失效风险和预防措施，而且还从机理和根本原因层面分析验证试验中的失效和现场的损坏。