然而，ROSE 测试只能给出整板离子污染的平均结果，无法得知局部区域的污染情况。对于在关键部位聚集出现的过量的导电离子残留，在测试中会被整板面积“稀释”。尤其是遇到元器件较少而整板面积较大的产品，这种“稀释”效应更加突出。鉴于ROSE测试方法的局限性，我们决定采用ZESTRON独创的 ZESTRON^® Flux Test助焊剂（活性剂）测试技术开展进一步分析。

ZESTRON^® Flux Test借助显色反应，能够标识出羧酸基型助焊剂中的活性剂，从而直观显示出助焊剂活性剂在电子组件上的具体分布位置，帮助清晰掌握污染物在局部的分布状态。ZESTRON^® Flux Test测试步骤如下：

三、总结

ROSE测试作为一种生产工艺的监控方法，有其快速简便且可量化的优势，但其又存在无法有效评估局部区域污染这一突出的局限性。ZESTRON^® Flux Test 借助显色反应可以清楚标识出助焊剂中的有机酸活性剂残留分布，是对离子污染度检测非常重要的补充，可用于生产质量监测、可靠性风险评价及失效分析等多种场景。离子清洁度是一个关键的产品质量特性，关乎整机产品可靠性和安全性，传统方法在解决离子清洁度问题时存在不足，而善用ZESTRON^® Flux  Test技术可以轻松破解ROSE测试的局限性。